SciAps серия X
Серия портативных рентгенофлуоресцентных спектрометров.
РФА (XRF англ.) — это проверенная временем технология для полевого элементного анализа. Специалисты SciAps более 30-ти лет занимаются разработкой и поддержкой портативных РФА. Разработанный компанией анализатор серии Х, обладает самыми современными характеристиками и возможностями, востребованными во многих отраслях.
Особенности рентгенофлуоресцентных спектрометров X серии
- Автоматическая оптимизация параметров трубки для каждой группы элементов, плавающий ток, шесть фильтров, «двойной и тройной луч»
- Инновационное аппаратное обеспечение:
— мини трубка упрочненной конструкции, повышенной мощности
— дрейфовый детектор с разрешением 135 кэВ
— уникальный импульсный процессор
Увеличивают скорость измерения в 10 раз и обеспечивают длительную работу без перегрева - Качественный анализ любых проб. Мгновенное определение всех присутствующих в пробе элементов (режим «Элемент Про»).
- Учет номинальных значений концентраций элементов, для более точного определения марки сплава.
- Библиотека примесей. Учет концентраций допустимых примесей по спецификации марок.
- Библиотека-марочник > 1200 марок. Расширение без ограничений. Поддерживает несколько марочников, поиск по названию, ASTM, UNS, ГОСТ и т.д.
- Показ спецификации марки на экране прибора. Показ нескольких схожих марок и выбор наилучшего совпадения.
- Коллимированный луч, встроенная фото и видео камера. Для идеального точечного прицела, удобства анализа сварных швов, соединений, биметаллов и т.д. (доступно в базовой комплектации всех моделей).
- Управление на базе ОС Android. Обеспечивает простоту освоения прибора, обновление и формирование отчетов.
- Беспроводная связь WiFi и Bluetooth. Для удобной работы с оргтехникой.
- Экран устройства 5 дюймов.
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Фильтры | 6-позиционное фильтрующее колесо для оптимизации луча. |
Импульсный процессор | 14-разрядный АЦП с частотой оцифровки 80 MSPS, 8000 каналов MCA USB 2.0 для высокоскоростной передачи данных на главный процессор, Цифровая фильтрация, реализованная в FPGA для высокопроизводительной импульсной обработки 50nS - 24uS пиковое время. |
Проверка калибровки | Внутренний затвор из нержавеющей стали 316 для полностью автоматизированной калибровки и проверки уровня мощности эмиссии. |
Главный процессор | ARM Cortex-A9 с двухъядерным процессором / 1,2 ГГц. Память: 1 ГБ оперативной памяти DDR2, 1 ГБ памяти NAND. Хранение: 8 ГБ SD |
Питание | Извлекаемая литий-ионная батарея, возможность работы от штатного зарядного устройства от сети переменного тока, возможность горячей замены батареи (максимальное время переключения 60 с). |
Габаритные размеры | 7,25 "x 10,5" x 4,5 " (18,41см. x 26,67см. x 11,43см.) |
Дисплей | 5-дюймовый цветной сенсорный экран, тип видеопроцессора - PowerVR SGX540 с аппаратной поддержкой 3D-графики. |
Внешний доступ/Передача данных | Wi-Fi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к большинству устройств, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК. |
Рабочая температура | От 10 ° F до 130 ° F (от -12,5°С до + 54,4°С ) при 25% -ном рабочем цикле. |
Масса | 1,5 кг |
Безопасность | Защита паролем (пользовательский уровень) и внутренние настройки (admin). |
МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Стандартные наборы элементов для различных моделей и приложений приведены в таблице ниже. Требуются другие элементы? Просто спроси! Мы можем добавить или заменить элементы для конкретных приложений.
X-300, X-200
Луч 1 (40 kV) | Луч 2 (10 kV) | Луч 3 (50 kV) | |
---|---|---|---|
Геохим горный | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U | Mg, Al, Si, P, S, K, Ca | Ag, Sn, Sb, Ba |
Геохим почвы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi | Mg, Al, Si, P, S | Ag, Cd, Sn, Sb, Ba |
Сплавы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb | Mg, Al, Si, P, S | N/A |
Драгметаллы | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb | N/A | N/A |
X-100
Луч 1 (40 kV) | Луч 2 (10 kV) | Луч 3 (50 kV) | |
---|---|---|---|
Геохим горный | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb | N/A | N/A |
Геохим почвы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb | N/A | N/A |
Сплавы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb (как X-300) | N/A | N/A |
Драгметаллы | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb (как X-300) | N/A | N/A |
X-50
Луч 1 (40 kV) | Луч 2 (10 kV) | Луч 3 (50 kV) | |
---|---|---|---|
Геохим горный | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb (как X-100) | N/A | N/A |
Геохим почвы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb (как X-100) | N/A | N/A |
Сплавы | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb (как X-100) | N/A | N/A |
Драгметаллы | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb (как X-100) | N/A | N/A |
ГАБАРИТЫ
СТАНДАРТНАЯ КОМПЛЕКТАЦИЯ
-
Водонепроницаемый переносной кейс, 2 Li-ion аккумулятора, зарядка, USB-кабель,
-
ПО для ПК ProfileBuilder для редактирования библиотек сплавов, просмотра и сохранения результатов. Темляк, проленовые сменные окошки, техподдержка, а также бесплатные обновления ПО.
Вес |
1.5 кг |
Габаритные размеры |
7,25 "x 10,5" x 4,5 " (18,41см. x 26,67см. x 11,43см.) |
Портативный спектрометр стандартно откалиброван на 37 элементов, включая все возможные элементы-спутники, кроме редкоземельных (REE). Серия X имеет один из 3 анодов на трубке: Au, Ag или Rh, в зависимости от применения. Наиболее частый выбор — Au-анод поскольку он оптимален для большинства элементов-спутников, в т.ч. критически важных спутников золота для рудных тел с высокими/низкими сульфикационными эпитермалями, орогенными, карлиновыми, порфировыми Cu-Au, оксидами железа Cu-Au и др.
Анод Rh охватывает широкий диапазон переходных и тяжелых металлов и оптимален для легких элементов: Mg, Al, Si, Р и S.
Пользователь может самостоятельно добавить или заменить нужные ему элементы, с помощью нашего ПО для Windows-ПК, включенного в комплект поставки. По вашему желанию, дополнительные элементы могут быть установлены на заводе-изготовителе.
- Легкие элементы:
Mg, Al, Si, R, S, К, Са
-
Переходные металлы / элементы-спутники:
Т, V, Сг, Mn, Fe, Со, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Те, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba
-
Тяжелые металлы:
Та, W, Au, Hg, Ti, Pb, Bi, U
Рентгенофлуоресцентных анализатор SciAps X анализирует все типы сплавов. Заводская калибровка включает более 30 элементов. В любое время вы можете самостоятельно добавить новые элементы, используя метод фундаментальных параметров (программа ФП), или с помощью эмпирических калибровок, в зависимости от того, что более предпочтительно для аналитической задачи. Вам более никогда не придется отправлять анализатор на завод изготовитель или в сервисный центр для дополнительных калибровок. Аналогичным способом можно настраивать работу лазерного анализатора SciAps Laser Z.
SciAps X портативный XRF (РФА) анализатор металлов на базе рентгеновской трубки для экспресс-анализа химического состава и идентификации марок сплавов. Оснащен миниатюрной, упрочненной рентгеновской трубкой новейшей технологии (напряжение 40 или 50 кэВ, ток до 200 мкА, Rh или Au-анод) и высокоскоростным кремниевым дрейфовым детектором (площадью 20 мм2 SDD, с разрешением 135 эВ на 5.95 Мп К-альфа линии, 250 тыс. импульсов в секунду реального времени).
Приложение «Сплавы» обеспечит полный химический анализ сплава и определение марки, с возможностью определения всех элементов, перечисленных ниже, для сплавов на любой основе.
Для моделей X-200, X-300 элементы:
Mg, Al, Si, Р, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Со, Ni, Си, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Та, Hf, Re
Для моделей X-50, X-100 элементы:
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Та, Hf, Re
В комплект поставки входит программа для Windows-ПК, для импорта/экспорта результатов и обработки данных. Также предлагается программа для качественного анализа «Элемент Про», которая обеспечит мгновенное определение наличия любых элементов в пробе.
SciAps X имеет лучшее, по сравнению с аналогичными рентгенофлуоресцентными спектрометрами, соотношение параметров «точность—скорость—вес».
SciAps X обладает удобной и практичной конструкцией с надежной защитой детектора. Удобное программное обеспечение на Android, которое обеспечивает высокую скорость проведения тестов. Все это делает SciAps X лучшим решением для входного контроля, сортировки, идентификации марок сплавов.
Х-300 |
Х-200 / X-250 |
Х-100 |
Х-50 |
Высокая скорость работы, точность и воспроизводимость для всех типов сплавов — жаропрочные, нержавеющие стали, медь, алюминий и пр. Измеряет легкие элементы (Mg > 0,7% в алюминиевой матрице). Al, Si, S и P с применением фирменной методики измерения. Измеряет 0,4% Mg в сплавах 6063, 356, 3004 с применением фирменной методики измерения. |
Высокая скорость работы, точность и воспроизводимость для жаропрочных сплавов, нержавеющих сталей, меди, алюминия и пр. Анализатор X-200 имеет два луча.Настройки второго луча по принципу выдержки на фотоаппарате: 5-6 сек. достаточно для измерения Al, Si, S и P 8-10 сек. измеряет концентрацию Mg от 0,8% в основе Al 15-20 сек. достаточно для измерения Mg от 0,3-0,5% в таких марках сплавов как 6063, 356 или 3004 Модель X-250 - специализированная модификация для анализа алюминия. |
Предназначен для анализа элементов от титана и выше. Анализ нержавеющих сталей и цветных сплавов со скоростью и точностью, сопоставимой с приборами-конкурентами в средней ценовой категории. Не имеет режима двойного луча, не анализирует элементы Mg, Si, Al, P и S. Работает на кремниевом дрейфовом детекторе (SDD). Альтернатива анализатору с PIN-детектором. |
Самая экономичная модель. Огромные возможности для анализа цветных, редкоземельных и тяжелых металлов. Предназначен для рутинной сортировки нержавеющих сталей и цветных сплавов. Способен на сортировку Al-сплавов по легирующим элементам от Ti и выше. |
ТРУБКА |
|||
40kV / 50 kV, анод Rh или Au (зависит от приложения) | 6-40kV, 200uA , анод Rh (сплав) или 6-50kV, 200uA анод Au (геохимия, почва, другие). | 6-40kV, 200uA Rh40 кВ, анод Rh (сплав) или анод 40 кВ Au (геохимия, почвы и др.). | 40 кВ, анод Rh (сплав) или анод 40 кВ Au (геохем, почва и др.). |
ДЕТЕКТОР |
|||
20 мм2 премиум SDD, FAST DPP 250k cps, разрешение 135eV FWHM по K-alpha Mn 5.95, более 90% измерений в режиме реального времени. | 20 мм2 стандарт SDD и DPP 125k cps, разрешение 135eV FWHM по K-alpha Mn 5.95, более 90% измерений в режиме реального времени. | 20 мм2 стандарт SDD и DPP. 125k cps, более 90% измерений в режиме реального времени. | 7 мм2 Si-PIN, стандартный DPP, 15k cps, более 50% измерений в режиме реального времени. |
Совместимость, удобная замена
Рентгенофлуоресцентные и лазерные анализаторы SciAps X и Laser Z работают на платформе Android и имеют единый интерфейс. В приборах используется аккумуляторные батареи одного типа и одинаковые зарядные устройства. Освоив работу на одном приборе, пользователь, без дополнительного обучения, сможет продолжить работу на устройстве другого типа.
Защита и долговечность
SciAps X имеет двойную защиту детектора. Стальной затвор открывается только на время анализа и надежно защищает детектор от повреждения. Защитная противоударная конструкция прибора обеспечивает ресурс рентгенофлуоресцентной трубки не менее 8-ми лет.
Связь, внешние подключения
Благодаря использованию ОС Android, анализаторы серий X и Z имеют встроенную фотокамеру, WiFi, GPS и Bluetooth и возможность облачной обработки данных. ПО и меню на русском языке.
Методы калибровки
ТХ использует методы калибровки фундаментальных параметров (ФП) и нормализацию по Комптону (НК) для количественного элементного химанализа. Пользователь может переключаться с одного метода на другой для любого элемента. В общем случае НК используется для малого уровня содержаний элементов в образцах руды с обычно низкими концентрациями металлов, а ФП используется для концентратов или образцов с содержанием металлов на уровне процентов. Пользователь может изменять заводские калибровки, проводить корректировки смещения, в зависимости от матриц, специфичных для конкретных участков, и создавать пользовательские калибровки, с использованием ПО «Элемент Про» (входит в комплект поставки).