ЛИЭС

ЛИЭС

Лазерно-искровой анализатор для спектрального анализа металлов, сплавов, проволоки, горных пород, почв, керамики, стекла и др.

Уникальный комбинированный источник воз­буж­де­ния спектров, который сочетает лазерную искру и электрический искровой разряд. Такой подход значительно (в 3–10 раз!) улучшает метрологические характеристики (чувствительность и воспроизводимость).

Особенности ЛИЭС

  • Обладает всеми плюсами лазерного спектрометра, но лишён части его недостатков
  • Подходит для проведения:
    Исследовательских работ
    Геологических и экологических
    экспресс-анализов
    Сертификационных анализов
  • Анализируемые материалы:
    Металлы и сплавы
    Миниатюрные образцы (проволоки, миниатюрные детали, осколки твёрдых пород и т.п.)
    Порошки, спрессованные в таблетки (почвы, донные отложения, геологические пробы и т.п.)
    Жидкости и масла (пропитанные ими пористые материалы)
  • Определение более 70 химических элементов
  • Выполняет прочие измерения, присущие классическим лазерным спектрометрам

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Диапазон измерения концентраций, % от 10-5 – 10-4 до десятков
Относительная случайная погрешность (в зависимости от условий измерения), % 5 – 15
Лазерный аблятор Тип лазера YAG:Nd
Длина волны, нм 1064
Длительность импульса, до 100 мкс
Энергия, Дж/импульс 0.1 - 1.0
Частота повторения, Гц 0.1 - 0.3
Источник возбуждения спектра Тип разряда Высоковольтная искра
Напряжение, кВ 4 - 10
Рабочий спектральный диапазон, нм 185 – 930
Среднее спектральное разрешение, нм в диапазоне, нм  
185 – 330 0.007 - 0.01
330 – 930 0.03 - 0.05
Средняя обратная линейная дисперсия, нм/мм в диапазоне, нм  
185 – 330 0.56
330 – 930 1.8
Фотоприемники (линейные ПЗС-детекторы TCD1304DG, TOSHIBA), шт до 24
Электрическое питание (220+22-33) В, (50+2-2) Гц
Потребляемая мощность, не более, Вт 250
Масса, не более, кг 60

МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Пределы обнаружения элементного спектрального анализа твердых веществ на спектрометре ЛИЭС по критерию «3σ» для большинства элементов лежат в диапазоне от менее 10-5% (0.1 г/т) до 10-4% (1 г/т). У метода имеются резервы дальнейшего снижения (улучшения) пределов обнаружения, как минимум, в 10 раз. Разработки в этом направлении сейчас активно ведутся.

Диапазон измерения концентраций в различных пробах от (10-5 – 10-4) % до десятков % при типичной относительной случайной погрешности (в зависимости от условий измерения) 5 – 15 %.

К настоящему времени методом лазерно-искрового спектрального анализа проведено множество измерений самых различных реальных образцов: токсичных элементов и тяжелых металлов в объектах окружающей среды (включая аэрозоли в воздухе), пищевом сырье и продуктах питания, в фармакологических препаратах, а также редкоземельных и драгоценных металлов в соответствующих образцах. Ниже представлена сводная таблица, в которой представлены минимальные значения содержаний, которые уверенно (т.е. с погрешностью 5 – 15 %) определялись в реальных многоэлементных образцах (не путать с пределами обнаружения):

№ пп Элемент Длина волны, нм Минимальное содержание, мкг/г (10-4%)
1 Ag 328.068 0.1 – 1.0
2 Al 309.271 1.0
3 As 193.759 0.8 – 2.0
4 Au 267.594 1.0
5 B 208.957 1.0
6 Ba 455.403 1.0
7 Be 313.107 1.0
8 Bi 206.17 1.0
9 Br 478.55 1.0-3.0
10 C 247.856 0.1
11 Ca 315.887 0.1-1.0
12 Cd 214.438 0.5
13 Ce 418.660 8.0-10.0
14 Cl 335.339 10.0
15 Co 228.616 3.0-5.0
16 Cr 313.205 1.0
17 Cs 894.359 1.0
18 Cu 324.754 1.0-3.0
19 Dy 394.468 5.0-10.0
20 Er 381.967 1.0-3.0
21 Eu 381.967 0.8-1.0
22 Fe 234.349 1.0
23 Gd 407.870 20.0-30.0
24 Ge 303.906 1.0
25 I 206.163 3.0-5.0
26 K 404.721 10.0
27 La 408.672 1.0-3.0
28 Li 670.776 1.0-3.0
29 Mg 285.213 1.0-3.0
30 Mn 403.076 3.0-5.0
31 Mo 313.259 1.0-2.0
32 Na 330.237 1.0
33 Nd 463.424 5.0
34 Ni 361.939 3.0-5.0
35 P 213.618 2.0
36 Pb 405.782 1.0-2.0
37 Pd 247.642 1.0
38 Pr 495.137 10.0-15.0
39 Pt 265.9 1.0
40 Sb 206.833 5.0-10.0
41 Se 203.985 10.0
42 Si 251.611 1.0
43 Sm 429.674 4.0
44 Sn 303.412 1.0-3.0
45 Sr 407.771 1.0-2.0
46 Ti 334.941 1.0
47 U 358.488 2.0-3.0
48 V 309.311 2.0-4.0
49 W 207.911 3.0-5.0
50 Y 410.236 2.0-3.0
51 Zn 206.200 1.0-2.0
52 Zr 360.119 2.0-3.0

ГАБАРИТЫ

Габариты спектрометра ЛИЭС (Д х Ш х В, мм): 950 х 700 х 550

Минимальная площадь, необходимая для размещения спектрометра: 3 кв. м.

Похожие товары

Уникальный настольный оптический эмиссионный спектрометр с комбинированным источником возбуждения спектров, сочетающим лазерную искру и электрический искровой разряд в воздухе, — ЛИЭС предназначен экспрессного спектрального анализа токонепроводящих образцов, анализа элементного состава твердых монолитов (стёкол, керамик, пластмасс, металлов, сплавов, гранитов и т.п.), различных прессованных порошков (включая почвы, породы, геологические образцы и т.п.). Спектрометр может быть применен для микроанализа неоднородных образцов (как по поверхности, так и по глубине), для анализа микро образцов, образцов сложной формы.

ЛИЭС может применяться в черной, цветной, порошковой металлургии; металловедении; горнодобывающей, горно-обогатительной и горно-перерабатывающей промышленности; геологии и геологоразведке; производстве строительных материалов; производстве особо чистых материалов; в экологии и охране окружающей среды; в сельском хозяйстве и пищевой промышленности; в криминалистических, медицинских и фармакологических лабораториях и др.

Уникальность комбинированного лазерно-искрового эмиссионного спектрометра состоит в том, что в отличие от классического лазерного спектрометра, в котором лазерная искра выполняет одновременно две функции: и абляции (извлечения анализируемого вещества из пробы), и возбуждения спектров извлеченных атомов и ионов, в спектрометре ЛИЭС применяется не один разряд, а два – лазерная искра и электрическая искра, которые делят между собой вышеуказанные функции: лазерная искра осуществляет абляцию, а электрическая искра служит источником возбуждения спектров атомов и ионов анализируемого вещества. Такой подход значительно (в 3 - 10 раз!) улучшает метрологические характеристики спектрометра (чувствительность и воспроизводимость).

Комбинированный лазерно-искровой эмиссионный спектрометр (ЛИЭС) объединяет в себе достоинства лазерного, искрового и дугового спектрометров и не несет в себе их недостатков.

Так, по сравнению с классическим лазерным спектрометром, у комбинированного спектрометра ЛИЭС значительно лучшие метрологические характеристики.

По сравнению с классическим искровым спектрометром ЛИЭС позволяет анализировать не электропроводящие материалы, как в виде твердых монолитов, так и в виде прессованных порошков и жидкостей. Добавляя к этому еще и возможность микроанализа (т.е. локального анализа) неоднородных образцов (как по поверхности, так и по глубине), а также возможность анализа микро образцов и образцов сложной формы. (Известно, например, что достоверный анализ на искровом спектрометре очень тонкой металлической проволоки из-за специфичности ее формы представляет значительные трудности, а на спектрометре ЛИЭС такой анализ осуществляется без проблем).

По сравнению с классическим дуговым спектрометром (с глобульной дугой), у комбинированного спектрометра ЛИЭС несколько проще пробоподготовка как порошковых проб (ограничивается прессованием), так и твердых монолитов. В спектрометре ЛИЭС отсутствует влияние состава электродов, между которыми формируется искра, в то время как в дуговом спектрометре влияние состава и формы (!) электродов на результаты анализа значительны. Кроме того, по сравнению с существующими дуговыми штативами из-за относительно небольших размеров аналитического плазменного отсека спектрометра ЛИЭС, последний легко может быть сделан вакуумируемым с последующим заполнением его аргоном, реализуя тем самым возможность анализа серы и фосфора на их классических аналитических линиях из области вакуумного ультрафиолета.

Изобретателем комбинированного лазерно-искрового эмиссионного спектрометра ЛИЭС является доктор физ.-мат. наук Скрипкин Арнольд Митрофанович ("Лазерно-искровой спектроанализатор", патент на изобретение 2163370 от 07.04.2000г., Бюлл. изображение. № 5, 2001 г.).

Для спектрального анализа образцов на спектрометре ЛИЭС (в состав которого входит спектрограф 2S36501225) доступны любые спектральные линии в диапазоне 185 – 930 нм с разрешением 0.007 - 0.01 нм (в диапазоне 185 - 330 нм) и 0.04 - 0.06 нм (в диапазоне 330 - 930 нм).

Пределы обнаружения элементного спектрального анализа твердых веществ на спектрометре ЛИЭС по критерию «3σ» для большинства элементов лежат в диапазоне от менее 10-5 % (0.1 г/т) до 10-4 % (1 г/т).

Типичные времена многоэлементного анализа образцов – 1-3 мин. Отсутствует сложная пробоподготовка.

Настольный лазерный искровой эмиссионный спектрометр ЛИЭС зарегистрирован в Государственном реестре средств измерений России под номером 19155-00.

ОСНОВНЫЕ БЛОКИ СПЕКТРОМЕТРА ОБЛАДАЮТ РЯДОМ ОРИГИНАЛЬНЫХ ОСОБЕННОСТЕЙ:

Особенности источника возбуждения спектров проистекают из принципа его действия, который заключается в следующем. Анализируемый образец располагается на подвижном трех координатном столике. На поверхность образца в выбранную оператором точку фокусируется лазерное излучение. Воздействие мощного лазерного импульса на поверхность образца приводит к появлению над ней факела из анализируемого вещества (лазерная абляция). В спектрометре ЛИЭС анализируемое вещество факела, поднимаясь над поверхностью образца, попадает в аналитический промежуток - область сильного импульсного электрического поля, формируемого расположенными над поверхностью образца электродами специальной конфигурации. Искровым генератором на электродах создается разность потенциалов и формируется искровой разряд в атмосфере буферного газа (воздух или аргон) и продуктов абляции анализируемого образца. В электрическом разряде происходит возбуждение атомов и ионов анализируемого вещества, эмиссионный спектр которых далее регистрируется системой регистрации спектрографа.

Предметом вышеуказанного изобретения Скрипкина А.М. как раз и являются, в частности, форма и расположение электродов, временная задержка между лазерным и искровым импульсами, отсутствие высокого напряжения на электродах (которое включается по команде управляющего устройства после пуска лазерного импульса), конструкция искрового генератора и др.

В результате, принцип двойного возбуждения и созданная конструкция аналитической зоны спектрометра обеспечили улучшение в 3-10 раз чувствительности и воспроизводимости измерений по сравнению с классическими лазерными анализаторами. Чувствительность и воспроизводимость измерений стали сопоставимы со значениями, присущими классическим искровым спектрометрам.

  • Спектрограф 2S36501225 – сдвоенный, т.е. на одном оптическом основании располагаются два спектрографа (с оптическими схемами Пашена-Рунге), оптически связанные через нулевой порядок дифракции первого спектрографа. Это наиболее рациональная конструкция для широкодиапазонных светосильных спектрографов.
  • Применяются высококачественные голограммные вогнутые дифракционные решетки, параметры которых специально оптимизированы для оптических схем спектрографов, применяемых в спектрометрах ООО "Промоптоэлектроника".
  • Доведенная до совершенства за два десятилетия технология изготовления спектрографов позволяет достичь практически предельных для данного типа спектральных приборов значений спектрального разрешения, например, в лазерно-искровых спектрометрах ЛИЭС спектральное разрешение составляет 0.007-0.01 нм (в диапазоне 185 - 330 нм) и 0.04-0.06 нм (в диапазоне 330 - 930 нм).
  • Эта же технология обеспечивает исключительно высокую температурную стабильность настройки спектрографов, причем без удорожающих прибор специальных систем термостабилизации. Остаточный уход спектральных линий составляет не более одного-двух пикселов (т.е. всего 10-15 мкм!) при изменении температуры на 10°С. Но даже этот небольшой уход автоматически (незаметно для оператора) корректируется.